全新設(shè)計(jì)的內(nèi)部反射鏡設(shè)置
一般從受光部到受光素子(CMOS)的光路越長(zhǎng)越容易取得高精度和安定檢測(cè)值，但會(huì)增加傳感器的高度使外形變大。HG-C系列使用了全新設(shè)計(jì)的內(nèi)部反射鏡設(shè)置，使高度變小的同時(shí)，實(shí)現(xiàn)了位移傳感器的高精度檢測(cè)。

采用鋁鑄外殼，使機(jī)身免受變形和溫度的干擾
采用同時(shí)兼顧輕量與強(qiáng)度的鋁鑄外殼。雖然尺寸小巧，但是機(jī)身堅(jiān)固，從而減少外殼變形和溫度等不穩(wěn)定因素對(duì)測(cè)量精度所產(chǎn)生的影響。

針對(duì)與檢測(cè)物體基準(zhǔn)面之間的距離，設(shè)置上限值和下限值，想要通過(guò)上下限的范圍 進(jìn)行判別時(shí)，使用該方式。

執(zhí)行2點(diǎn)教導(dǎo)，設(shè)定基準(zhǔn)值范圍的方法。
※針對(duì)距離有所不同的檢測(cè)物體有效。

執(zhí)行3點(diǎn)(檢測(cè)物體A、B、C)教導(dǎo)時(shí)，教導(dǎo)值將會(huì)自動(dòng)按照升序(教導(dǎo)值1、2、3)重新排列數(shù)值，在教導(dǎo)值1與教導(dǎo)值2之間設(shè)定基準(zhǔn)值，并在教導(dǎo)值2與教導(dǎo)值3之間設(shè)定基準(zhǔn)值，從而設(shè)定基準(zhǔn)值范圍。
※針對(duì)距離有所不同的檢測(cè)物體有效。

除教導(dǎo)&窗口比較模式外，還配備有[上升微分模式]、[下降微分模式]以及[通常檢測(cè)模式]。 在通常檢測(cè)模式下，可使用基本教導(dǎo)方法中的“2點(diǎn)教導(dǎo)”，存在微小物體和背景物體的情況下， 還可使用便捷的[限定教導(dǎo)]。

OFF延遲定時(shí)器
<功能> 使輸出信號(hào)延遲5ms。
<用途> 連接機(jī)器的響應(yīng)速度較慢，檢測(cè)時(shí)間無(wú)法滿足其要求時(shí)，宜使用該設(shè)定。

ON延遲定時(shí)器
<功能> 從檢測(cè)時(shí)開(kāi)始，使5ms內(nèi)的輸出信號(hào)無(wú)效。
<用途> 想要使短時(shí)間信號(hào)無(wú)效的情況下，以及需要利用時(shí)間差進(jìn)行控制的情況下，可方便地使用該設(shè)定。

單觸式定時(shí)器
<功能>從檢測(cè)時(shí)開(kāi)始，僅在5ms內(nèi)發(fā)送輸出信號(hào)。
<用途> 根據(jù)連接機(jī)器的輸入條件，信號(hào)時(shí)間必須保持恒定時(shí)，宜使用該設(shè)定。另外，想要使短時(shí)間的信號(hào)延長(zhǎng)至必要的時(shí)間寬度時(shí)，也可有效使用該設(shè)定。