SSD使用的閃存顆粒中，eTLC NAND顆粒通常具有更高的P/E次數(shù)，這意味著它們具有更長(zhǎng)的使用壽命。

影響eTLC SSD壽命的主要因素

可擦/寫(xiě)次數(shù)（P/E Cycle）：

eTLC NAND顆粒的P/E次數(shù)通常為7000到10000次，遠(yuǎn)高于TLC NAND顆粒的500到3000次。在相同的使用條件下，eTLC SSD的使用壽命更長(zhǎng)。

P/E Cycle表示：在SSD的整個(gè)生命周期中，每個(gè)存儲(chǔ)單元可以被寫(xiě)入和擦除的次數(shù)。一旦達(dá)到這個(gè)限制，存儲(chǔ)單元可能會(huì)失效，導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失或性能下降。

寫(xiě)入放大（WAF）：

SSD在寫(xiě)入數(shù)據(jù)時(shí)，由于內(nèi)部算法和管理的需要，實(shí)際寫(xiě)入的數(shù)據(jù)量可能會(huì)大于用戶(hù)請(qǐng)求寫(xiě)入的數(shù)據(jù)量。這種現(xiàn)象稱(chēng)為寫(xiě)入放大，它會(huì)加速SSD的磨損，縮短其使用壽命。

因此，SSD會(huì)導(dǎo)入TRIM功能，可以幫助減少寫(xiě)入放大的影響， TRIM可以通知SSD哪些數(shù)據(jù)塊不再被需要，從而允許SSD更有效地管理其存儲(chǔ)空間。

溫度和供電穩(wěn)定性：

高溫和供電不穩(wěn)都會(huì)加速SSD的老化，導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失或硬件損壞。

保持SSD在適當(dāng)?shù)臏囟确秶鷥?nèi)（通常為0°C至70°C）以及使用穩(wěn)定的電源，可以延長(zhǎng)其使用壽命。

容量和DWPD：

SSD的容量越大，通常意味著其有更多的存儲(chǔ)單元來(lái)分散寫(xiě)入操作，從而延長(zhǎng)使用壽命。

即使在高DWPD（每天全盤(pán)寫(xiě)入次數(shù)）的情況下，eTLC SSD更具有較高的P/E次數(shù)，故能保持較長(zhǎng)的使用壽命。

因此，在選擇SSD產(chǎn)品時(shí)，要選擇eTLC或DWPD越高的，則壽命越長(zhǎng)。

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