天線測量解決方案領導者Microwave Vision Group（MVG）近日宣布與歐洲航天局 (ESA) 簽訂兩份合同，位于荷蘭的歐洲航天研究和技術中心 (European Space Research and Technology Centre, ESTEC)將通過MVG天線測量技術為其新型改進射頻測試設施Hertz 2.0提供補充。

Hertz 2.0將受益于大型多軸定位器，使中型和重型被測設備 (DUT) 能夠在任何角度方向上進行高精度測試。MVG 與 DUT 定位器一起為緊縮場(CATR)饋源提供定位系統(tǒng)。

為了進一步提高 HERTZ 2.0 的測試能力，該機構還指定 MVG設計和制造大型平面近場 (PNF) 掃描儀，并提出了具有挑戰(zhàn)性的要求——在不使用時將其隱藏在緊湊型范圍系統(tǒng)后面。

HERTZ 2.0設施的尺寸將明顯大于 HERTZ 1.0 ——長32m x 寬25m x 高18m，并將確保高精度的端到端天線和衛(wèi)星測試頻率范圍很廣——從 1 GHz 到幾百 GHz。當代衛(wèi)星中電子設備和天線系統(tǒng)的集成特性激發(fā)了這種擴展。 HERTZ 2.0 將容納一個緊湊的遠場測試范圍以及一個平面近場掃描儀；二合一測試室可容納目前正在開發(fā)的最大衛(wèi)星及其復雜的射頻有效載荷和通信系統(tǒng)的測試。

暗室中的另一個二合一選項與DUT定位系統(tǒng)有關。該安裝將允許切換兩個先進的 MVG 定位子系統(tǒng)：一個帶有翻轉(zhuǎn)升降 (AZ/EL) 定位器的重型塔，負載能力高達6000公斤，將允許測試完整的衛(wèi)星有效載荷和非常重的天線；一個更適合輕型DUT定位要求的中型系統(tǒng)，將由塔式和輥式定位器組成。

新型饋源定位器除了能夠?qū)佋蠢染_定位在雙反射鏡緊湊型范圍系統(tǒng)的焦點之外，還具有在焦平面中掃描饋源并在靜區(qū)（QZ）中將平面波傳播方向移動幾度的能力。

平面近場掃描儀對于精確表征至關重要的高性能高頻天線特別有用。在這種情況下，為了驗證太空中的全部功能，衛(wèi)星有效載荷和天線系統(tǒng)將在專用吸波測試暗室的受控環(huán)境中進行測試。使用近場平面掃描儀的測試配置還將避免大型DUT的移動，從而優(yōu)化測量效率和精度。

借助MVG 提供的解決方案，可以根據(jù)DUT的機械特性調(diào)整定位器，并在緊縮場（CATR）和平面近場（PNF）之間選擇最合適的天線測量技術，從而針對特定測量活動重新配置測試設施。該測試設施還將配備 MVG 最先進的WaveStudio天線測量軟件，該軟件將允許數(shù)據(jù)采集、可視化和后處理，從而進一步提高測試效率。

MVG 提供的最先進的定位器和平面近場（PNF）掃描儀將在增強 歐洲航天研究和技術中心設施的測試能力方面發(fā)揮重要作用。 Hertz 2.0 注定要在電磁測試和測量方面實現(xiàn)無與倫比的準確性和效率，并推動歐洲衛(wèi)星開發(fā)和空間應用的創(chuàng)新和進步。