ZEISS scatterControl模塊可顯著改善圖像質量，并將CT掃描的散射偽影降至最低。上述優(yōu)化有助于合適零件的后續(xù)數(shù)據(jù)處理和評估步驟，從而讓表面測定和缺陷分析更為精確。該產(chǎn)品適用于高容量、高密度零件，如增材制造的金屬零件和鋁鑄件（甚至帶有鋼嵌體），以及其他含有高密度材料的裝配件。

該模塊可用于ZEISS METROTOM 1500 225kV G3，也可作為改造解決方案或購買新系統(tǒng)的一部分。即刻起，使用ZEISS scatterControl升級您的系統(tǒng)吧。您將獲得良好的圖像質量，從而更便捷地進行數(shù)據(jù)評估。

優(yōu)勢

ZEISS scatterControl的優(yōu)勢有哪些？

圖像質量更佳、缺陷檢測性能更優(yōu)

ZEISS scatterControl通過減少散射輻射造成的偽影，顯著改善了CT圖像質量。不同組件之間的對比度提升，缺陷檢測步驟也得以簡化：可對既往幾乎無法評估的零件區(qū)域進行評估。

優(yōu)化表面測定

受益于ZEISS scatterControl，不僅缺陷檢測步驟有所簡化，表面測定的總體質量也有所提升。這對于具有挑戰(zhàn)性的零件的計量應用而言是巨大優(yōu)勢，如果不對其偽影進行校正，則會影響表面測定過程。

配備VAST模式，實現(xiàn)快速掃描

ZEISS scatterControl可與“Stop and Go（走停）”和VAST掃描模式配合使用。ZEISS scatterControl解決方案為錐束CT提供良好的圖像質量，可與扇束CT的圖像質量相媲美，但掃描時間可提高1000倍。

使用方便

ZEISS scatterControl屬于一鍵式解決方案。該模塊可與METROTOM OS的其他有用功能無縫銜接，如VHD（虛擬水平探測器擴展）、AMMAR（高級混合材料偽影減少）或VolumeMerge，并完全集成到軟件中。

圖像質量

ZEISS scatterControl的缺陷分析性能更優(yōu)

ZEISS scatterControl可顯著改善各種零件和行業(yè)的CT掃描圖像質量。其作用機制十分明確，該解決方案不僅可有效去除偽影，還能對模塊進行相對于工件的定位。基于這些優(yōu)勢，ZEISS scatterControl成為所在領域的理想之選。通過以下內(nèi)容了解如何使用該模塊進行缺陷檢測和分析。

減少偽影，改善CT圖像質量

ZEISS scatterControl與其他產(chǎn)品相比具有明顯差異，其使用滑塊元素來比較使用和不使用scatterControl模塊可實現(xiàn)的X射線圖像質量。因此，改進后的圖像對比度更高且偽影更少，從而使細節(jié)呈現(xiàn)更為清晰。

基于模塊定位

鑒于模塊的工作原理，ZEISS scatterControl與同類產(chǎn)品相比具有較高的質量：其置于管線和探測器之間?？蓪⑤^小物體（如密集型增材制造零件）放置在模塊前方，將較大物體放置在后方。兩種方式皆可發(fā)揮作用。此外，內(nèi)置的物理碰撞傳感器和精密的碰撞預測軟件可有效防止碰撞。

適用于各種零件和行業(yè)

鑄造：大型鋁制或鎂制零件（甚至帶有鋼嵌體）

汽車：帶有鋼嵌體的鑄件、電力電子器件

增材制造：密集型金屬印制零件

改進三維檢測

改進體積數(shù)據(jù)讓評估更加便捷。確定并生成三維表面，且無干擾性偽影。許多偽影通常由散射輻射造成，在三維表面產(chǎn)生偽面，進而妨礙精確測量。