半導(dǎo)體可靠性測(cè)試系統(tǒng)領(lǐng)導(dǎo)廠商思達(dá)科技，宣布一體化SMU-per-pin測(cè)試系統(tǒng)—思達(dá)冥王星STAr Pluto-hiVIP，已獲得半導(dǎo)體標(biāo)竿行業(yè)客戶訂單且完成出貨。此系統(tǒng)配置應(yīng)用在TSV、銅柱(Copper-Pillar)、微凸塊(micro-bump)等多腳數(shù)器件的低/大電流動(dòng)態(tài)AC電子遷移和老化測(cè)試，以及高壓、高功率HCI和NBTI HCI/NBTI，與高壓GOI可靠性測(cè)試。

思達(dá)冥王星Pluto系列是次世代可靠性測(cè)試解決方案，應(yīng)用范圍包括封裝級(jí)和晶圓級(jí)驗(yàn)證，多樣配置可滿足EM、HCI、NBTI、TDDB等的行業(yè)測(cè)試要求。此系列中Pluto-hiVIP，是一款新型、支持更高電流和電壓的高端測(cè)試系統(tǒng)，具有可以輕松升級(jí)至大容量系統(tǒng)的彈性架構(gòu)，單一系統(tǒng)內(nèi)可進(jìn)行多個(gè)應(yīng)用。

最大配置包括48個(gè)電源與量測(cè)單元 (SMU，Source and Measurement Unit)，每個(gè)模塊具有2個(gè)獨(dú)立電源，共有96個(gè)電源可進(jìn)行多被測(cè)器件數(shù)的驗(yàn)證，實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試性能，同時(shí)顯著增加高電流和電壓可靠性測(cè)試容量。

思達(dá)冥王星Pluto-hiVIP是完整的集成封裝級(jí)高溫可靠性測(cè)試解決方案，開發(fā)應(yīng)用在支持大電流EM、大功率HCI/BTI和高壓TDDB驗(yàn)證。設(shè)計(jì)用在并行應(yīng)力和測(cè)試，最大可支持4.0A dc，高擊穿電壓可達(dá)100V，熱溫室溫度在18至400攝氏度，被測(cè)器件（DUT）板具有零插入力測(cè)試插座，確保一整個(gè)環(huán)境，適合在單個(gè)系統(tǒng)內(nèi)進(jìn)行從室溫HCI至高溫EM的全套可靠性測(cè)試。冥王星Pluto-hiVIP系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了主要而關(guān)鍵的高精度測(cè)試結(jié)果和驗(yàn)證性能。

思達(dá)科技執(zhí)行長(zhǎng)與技術(shù)長(zhǎng)劉俊良博士表示，“此次接單出貨代表行業(yè)客戶對(duì)于STAr Pluto系列，卓越的能力、效率和測(cè)試精度的肯定。Pluto系列測(cè)試系統(tǒng)，是以新的硬件和軟件架構(gòu)為基礎(chǔ)，滿足現(xiàn)今和未來(lái)的半導(dǎo)體驗(yàn)證測(cè)試要求，同時(shí)減少客戶的測(cè)試工程人力時(shí)間成本，達(dá)到最好的測(cè)試表現(xiàn)和更高的產(chǎn)能。”

Img. 思達(dá)冥王星Pluto-hiVIP測(cè)試系統(tǒng)