隨著半導體產業(yè)走入芯片融合時代，工藝和應用的復雜度不斷提升，想要生產出好的產品，“測試先行”尤為重要。測試設備主要用于半導體制造過程中檢測芯片性能與缺陷，幾乎每一道工藝完成后都要進行，其中高精度溫度控制貫穿于整個測試環(huán)節(jié)的始末。

宇電合作伙伴中，江蘇某高端測試儀器和設備供應商，專業(yè)從事光網絡測試、光芯片測試、電性能測試和功率芯片測試。自2020年起，激光器芯片老化測試需求激增，對溫控器品質和性能的要求更苛刻，一直在尋求激光器老化設備的理想溫控解決方案。

通過對比驗證，宇電AI-7548D71溫控器在控制效果、通訊速度、安全性與穩(wěn)定性方面完全滿足該設備供應商在不同測試場景下的多樣化需求。提升測試結果的準確性和可靠性。

客戶評價：“我們曾在設備上進行過不同品牌溫控系統(tǒng)的控制測試。結果顯示，宇電AI-7548D71溫控模塊的控制效果明顯優(yōu)于其他品牌，與國際品牌控溫效果一致?！?/span>

宇電多路溫控器 全面提升設備控制品質

激光器老化測試設備的溫度一般為40-150℃，芯片對溫度變化極為敏感，任何微小的波動將對測試結果產生顯著影響，宇電制定的溫度控制方案為設備生產商解決生產難題。

高精度溫控，提高篩選不良品效率

宇電AI-7548D71溫控器搭載的高精密APID自整定自適應算法，將外部干擾引起的溫度波動控制在最小限度內，提供穩(wěn)定測試環(huán)境，幫助設備商篩選出，因溫度極端變化導致的焊料老化、分層、鍵合線脫落、斷裂的不良芯片。

多通道獨立控制，功能靈活

老化設備同時測試多顆芯片，需要對每個測試夾具中的溫度進行單獨控制，觀察芯片在極端環(huán)境中的表現(xiàn)。

宇電AI-7548D71溫控器具有多通道獨立控制功能，靈活性強，確保每個芯片都能在其特定的溫度條件下進行測試，進一步提高測試的準確性和可靠性。

精巧設計，節(jié)省安裝空間

為提高結果準確性，要在大量樣本上進行測試，溫控點位增多，而老化測試設備集成度高，柜內空間有限。宇電AI-7548D71溫控器設計精巧，寬度僅22.5mm，單臺儀表集成4路控制功能，節(jié)省寶貴的安裝空間。

結語

宇電AI-7548D71工業(yè)溫控器除應用在半導體制造環(huán)節(jié)，還可應用于如鋰電等多種行業(yè)，降本增效，節(jié)約能耗，實現(xiàn)價值最大化。

隨著全球對芯片需求的激增，晶圓廠、設備商和供應鏈的所有環(huán)節(jié)都在不斷優(yōu)化工藝，利用新技術盡可能提高產能和品質。宇電將繼續(xù)與工業(yè)客戶緊密合作，利用先進的溫控技術幫助客戶縮短測試周期，持續(xù)提升測試良率，優(yōu)化成本控制，幫助客戶在激烈的市場競爭中脫穎而出，用科技賦能半導體等行業(yè)高質量發(fā)展。