IPOSIM-IGBT仿真工具在變頻器設(shè)計中的應(yīng)用
2008/1/18 13:06:00
1 引言 IGBT(絕緣柵雙極性晶體管)模塊在整個變頻器設(shè)計過程中將決定系統(tǒng)的成本和可靠性,甚至產(chǎn)品壽命。因此,計算IGBT損耗和溫度分布以及容易被忽略的結(jié)溫紋波對于設(shè)計工程師來說是非常重要的。另外,比較不同IGBT模塊在給定應(yīng)用條件下的輸出電流能力也是非常有意義的。為此,英飛凌開發(fā)了一個功能強(qiáng)大、使用靈活的IGBT仿真工具IPOSIM,它能幫助你縮短變頻器的開發(fā)周期,提高設(shè)計效率,其層次結(jié)構(gòu)框圖如圖1所示。 相比其它類似的仿真工具,IPOSIM擁有友好的界面,容易使用,功能豐富,不需要其它軟件平臺來支持運行等很多優(yōu)點。它能夠計算基于正弦輸出電流條件下IGBT和續(xù)流二極管的導(dǎo)通損耗和開關(guān)損耗,進(jìn)而分析其溫度特性。在用該工具進(jìn)行仿真前應(yīng)該考慮兩個方面的問題,其一是變頻器工作點的參數(shù),如輸出電流,直流電壓,功率因數(shù),過載系數(shù),調(diào)制系數(shù),輸出頻率。這些是IPOSIM仿真工具進(jìn)行損耗計算的輸入前提條件,它僅能夠從電氣性能角度來初步?jīng)Q定IGBT模塊,不能保證IGBT在一定負(fù)荷條件下是處于安全和最優(yōu)運行狀態(tài)的。其二,IGBT自身的熱特性。這是分析IGBT在變頻器給定應(yīng)用條件下能否安全運行非常重要的方面。對于IGBT芯片來說,不要超過其最大允許運行結(jié)溫125℃或150℃(取決于芯片技術(shù))是其最根本的安全運行條件。通過優(yōu)化IGBT運行參數(shù)來降低損耗,使其平均結(jié)溫低于運行結(jié)溫。IPOSIM工具正是從這兩個角度出發(fā)進(jìn)行IGBT仿真分析。 2 基本原理 通常而言,在通用變頻器領(lǐng)域中圖2所示的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)是最為常見。由于三相電路的對稱性,因此,僅分析其基本結(jié)構(gòu)半橋,其包括兩個IGBT開關(guān)和兩個續(xù)流二極管。在變頻器控制中,經(jīng)常用SPWM調(diào)制策略來控制IGBT開通和關(guān)斷。IGBT和二極管的導(dǎo)通占空比由參考正弦波和三角波的交叉點所產(chǎn)生的SPWM信號決定。當(dāng)基于SPWM調(diào)制輸出電壓加到電機(jī)上時,由于較大的負(fù)載電感和較高的開關(guān)頻率,使變頻器輸出電流為連續(xù)正弦波形。圖3為流過半橋中IGBT和二極管的電流波形。輸出電流io的正半周通過IGBT1和二極管D2,如圖2實線所示;負(fù)半周通過IGBT2和二極管D1,如圖2虛線所示。所以,在半個周期內(nèi)僅有一個IGBT和二極管交替導(dǎo)通來承擔(dān)輸出電流。 圖2 通用變頻器的基本拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)及PWM 圖3 流過IGBT和二極管的電流波形 因此,在一個完整周期內(nèi)平均損耗計算可以只考慮一個開關(guān),包括一個IGBT和一個二極管。IPOSIM進(jìn)行損耗分析也是基于一個開關(guān)進(jìn)行的,計算和顯示單個開關(guān)的損耗情況,包括IGBT和二極管兩部分。整個計算過程不依賴模塊的電路結(jié)構(gòu)。詳細(xì)計算損耗的方法將在后面提到。 3 IPOSIM仿真原則 3.1 直流母線電壓Vdc 在IPOSIM中輸入?yún)?shù)直流母線電壓Vdc的值是受限制的,不能超過所選的IGBT模塊開關(guān)能量測試電壓±20%的范圍。該值大小對計算IGBT開關(guān)損耗有一定影響,當(dāng)該值接近±20%測試電壓時,可以近似認(rèn)為開關(guān)損耗與直流母線電壓成線性關(guān)系。如果該值超過該限制條件,仿真也能夠進(jìn)行,但是仿真結(jié)果可能會不準(zhǔn)確。 3.2 IGBT輸出電流 IGBT標(biāo)稱電流Inom的定義是在給定的殼溫條件下無開關(guān)過程時允許通過的最大直流電流,并非IGBT流過電流的最大能力。IGBT最大輸出電流的大小是受IGBT自身允許最大損耗的限制,另一個是IGBT輸出電流峰值的限制??紤]到IGBT的反向安全工作區(qū)(RBSOA),英飛凌IGBT模塊有能力關(guān)斷兩倍的額定電流,但是在沒有超過熱限制的條件下會嚴(yán)格限制輸出電流的有效值Irms到2*Inom/范圍內(nèi)。 3.3 功率損耗 在最大允許運行結(jié)溫Tjop和給定的殼溫Tc條件下,由于結(jié)到殼的熱阻將會限制IGBT和二極管所允許的功率損耗。不同殼溫的設(shè)計,會得到不同的最大功率損耗,由于結(jié)溫紋波,功率限制也會隨著輸出頻率的變化而改變。輸出頻率越低,允許的功率損耗越小。
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