當(dāng)前頁面： 首頁 >用戶活動 >NI 提高測量精度的七大技巧
NI 提高測量精度的七大技巧
場次安排：
7/14 昆明|7/16無錫|7/21綿陽
起止時間：
2009-02-10
至
2009-12-31
|
簡介：
您是否面臨過測量噪聲帶給您的困擾？眾所周知，測量噪聲是影響信號采集精度的重要因素之一，而測量系統(tǒng)周邊的電廠、磁場、無線電波等噪聲源都會大幅度影響測試結(jié)果，同時線纜的選擇、信號調(diào)理（隔離與抗混疊）、測試電路的設(shè)計也是測量精度是否滿足要求的關(guān)鍵所在。因此，如何有效地降低測量噪聲，從而提高測量精度，成為了工程領(lǐng)域的當(dāng)務(wù)之急。
本講座中，NI工程師將為您精講提高測量精度的七大技巧，從選擇合適的傳感器、隔離技術(shù)到基于軟件的信號處理，結(jié)合生動有效的應(yīng)用演示，讓您全面受益，確保您測試測量應(yīng)用的成功！
本次研討會為以下工程師精心設(shè)計：
- 想了解NI數(shù)據(jù)采集系列產(chǎn)品
- 需要解決測量噪聲與精度的問題
- 測試測量項目開發(fā)人員
您將通過本次研討會了解到：
學(xué)習(xí)數(shù)據(jù)采集的基本理論
如何選擇最合適的傳感器
合理的放置與屏蔽
正確的接線方式
信號隔離技術(shù)
硬件級濾波
信號處理技術(shù)
時間和地點：
7/14 昆明 14：00-17：00 昆明新紀元酒店12樓多功能廳（昆明東風(fēng)西路99號）
7/16 無錫 14：00-17：00 具體地點以電話確認為準
7/21 綿陽 14：00-17：00 綿陽臨園賓館大酒樓三樓相見歡廳（綿陽臨園路東段68號）
涉及的產(chǎn)品/應(yīng)用/演示包括：
NI LabVIEW — 功能強大的圖形化開發(fā)平臺
NI 數(shù)據(jù)采集（DAQ）產(chǎn)品 — M系列數(shù)據(jù)采集卡 + USB便攜式數(shù)據(jù)采集產(chǎn)品 + Wi-Fi無線數(shù)據(jù)采集產(chǎn)品
網(wǎng)絡(luò)資源：
了解更多NI數(shù)據(jù)采集相關(guān)信息，請訪問：ni.com/china/daq
|
