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NI 下一代工業(yè)測(cè)控系統(tǒng)——更高精度更快控制研討會(huì)
場(chǎng)次安排： 07/22 石家莊 |09/17 青島|09/22 南通 起止時(shí)間： 2008-06-12 至 2009-09-22
簡(jiǎn)介：
當(dāng)前，工業(yè)控制領(lǐng)域的競(jìng)爭(zhēng)越發(fā)激烈，對(duì)于工業(yè)控制器的要求也越來越高。您可能需要把更高精度的測(cè)量和更高速度的控制集成到已有的系統(tǒng)中去。
本研討會(huì)將為您帶來高性能的測(cè)控解決方案。開放的軟件平臺(tái)不僅提供了多種高級(jí)算法加速開發(fā)流程，也可以方便地集成您已有的硬件產(chǎn)品降低系統(tǒng)升級(jí)成本。堅(jiān)固可靠的硬件平臺(tái)集成了當(dāng)前最先進(jìn)的FPGA技術(shù)，可以滿足您對(duì)于高性能的測(cè)試和控制的需求。
此外，NI的工業(yè)平臺(tái)中還可以輕松集成機(jī)器視覺與運(yùn)動(dòng)控制系統(tǒng)，滿足您個(gè)性化的系統(tǒng)應(yīng)用需求。
本次研討會(huì)為以下工程師精心設(shè)計(jì)：
控制工程師，自動(dòng)化工程師，機(jī)械工程師及工業(yè)控制領(lǐng)域系統(tǒng)開發(fā)人員
研討會(huì)議程：
高精度測(cè)量
高性能分析
集成FPGA的高級(jí)控制平臺(tái)
與現(xiàn)有平臺(tái)方便的集成
涉及的產(chǎn)品/應(yīng)用/演示包括：
LabVIEW，LabVIEW DSC，NI OPC Server
CompactRIO，NI機(jī)器視覺平臺(tái)，NI運(yùn)動(dòng)控制平臺(tái)，Touch Panel
CompactRIO Scan Mode演示
用戶案例介紹：
鋼鐵冶金，軌道控制，汽車工業(yè)等行業(yè)對(duì)于高性能測(cè)量與控制的應(yīng)用
網(wǎng)絡(luò)資源：
ni.com/china/pac
ni.com/china/industrial
07/22 石家莊 14:00 - 17:00 具體地點(diǎn)以電話確認(rèn)為準(zhǔn)
9/17 青島 14:00 - 17:00 具體地點(diǎn)以電話確認(rèn)為準(zhǔn)
9/22 南通 14:00 - 17:00 具體地點(diǎn)以電話確認(rèn)為準(zhǔn)
更多研討會(huì)資料：
利用NI LabVIEW與CompactRIO平臺(tái)，助力奧運(yùn)場(chǎng)館結(jié)構(gòu)健康監(jiān)測(cè)
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